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太阳能硅片视觉检测方案


检测内容太阳能电池片表面检测:
 • 缺陷种类:手印、大小角(尺寸不良)、深刮痕、崩边、边缘缺陷、孔洞和污染
 • 最大可检测156mmx156mm wafer
 • 检测精度:0.2mm
 • 像素精度55 um @ 工作距离350mm
 • 检测速度:最大3600 片/小时
 • 硅片暗裂
 • 硅片表面SiN膜一致性检测
 • 硅片共面度3D检测

系统配置:
·线阵工业相机、高分辨率工业镜头、LED线光源、大功率光源控制器;
·工控机:> 3.0G CPU,2048M 内存,160G硬盘,19” LCD显示器等;
·机机械结构部分(包括机台,精密传送带、相机等固定及微调装置等)和电控箱(运动控制单元、电机、传感器等);
·应用软件包及运行许可证及WindowsXP 运行环境+SP2。

线阵太阳能硅片视觉检测光源选型

本系统拍摄目标为太阳能电池板表面,要求体现被测物表面手印、大小角(尺寸不良)、深刮痕、崩边、边缘缺陷、孔洞和污染等,为更好地表现细节,建议采用波长较短的光源-蓝色光源,并采用低角度方式照射,并由于线阵扫描的速度对光源的亮度有比较高的要求,可选配富爱其蓝色高亮线阵LED光源,该光源专用于线阵项目,采用高亮LED及特殊光学设计,在均匀性、亮度及聚光性均有非常优异的表现。另外,充分地考虑了散热方面的要求,配合专用光源控制器,该光源可保证连续点亮3万个小时。由于太阳能硅片另一常见缺陷如暗裂,尺寸变形等,为提高轮廓的对比度效果,及体现暗裂等缺陷,则需在另一面采用穿透力比较强的红外线光源作背光用。

另外,在面阵方式进行太阳能电池片检测时,由于考虑到太阳能电池片属于大面识表面反光物体,在光源选型时,通常选用回形背光源作正光,富爱其大功率大面积背光源具有高亮度,低发热,高均匀性等特点.是面阵太阳能硅片检测的首选光源,欢迎来电查询

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